池田屋现货Photonic Lattice二维双折射测量WPA-200-L

池田屋现货Photonic Lattice二维双折射测量WPA-200-L

池田屋现货Photonic Lattice二维双折射测量WPA-200-L

WPA-200-L 是 Photonic Lattice（光子晶格公司）WPA-200 系列中的大台面型号，属于应力、取向及晶体缺陷质量控制类设备。该系列通过测量三个波长上的双折射与相位差分布，将相位差的测量范围从 0 纳米扩展到 3500 纳米，适用于薄膜和透明树脂产品的测量。该系列的视野范围覆盖从微观到宏观（约 50cm），可根据测量场景选择对应尺寸的机型。

在测量规格方面，WPA-200-L 的输出包括相位差（nm）、光轴方位角（°），选配数据处理功能后可换算等效应力（MPa）。在测量纯石英的条件下，相位差量程为 0 至 3500nm。相位差重复精度为 1σ＜0.1nm，光轴方位角重复精度为 1σ＜0.1°（在相位差大于 10nm 的条件下）。传感器分辨率为 384×288，约 11 万像素，工作波长为 523nm、543nm、575nm。

硬件方面，WPA-200-L 的机身尺寸为 430×487×最大 977mm，物镜尺寸约为 33×44mm 至 240×320mm（标准镜头），或约 3.0×4.0mm 至 14.2×19.0mm（变焦镜头，可选），重量约 23kg。设备采用千兆以太网接口，电源为 AC100 至 240V（50/60Hz），配套 WPA-View 软件用于数据展示与分析。

在选项方面，WPA-200-L 可选配变焦镜头、数据处理功能、视场角校正功能、透镜分析功能、实时分析功能、遥控功能、色散模式、WPA 高度迟钝、PA/WPA 遮阳罩以及光弹性测量。该型号的镜头测量阶段标注为待讨论，选型时需与供应商确认。与 WPA-200 标准型号相比，WPA-200-L 在机身尺寸、物镜尺寸与重量上有所不同，以适应更大的测量视野需求。

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