SANKO山高SF罐超声波测厚仪SF-1150
SANKO山高SF罐超声波测厚仪SF-1150规格测量方法脉冲反射法（单探头法）测量范围1.0～50.0mm模式自动切换（标准/厚板）显示方式LCD 数字（带 EL 照明）测量精度±0.1mm声速调节范围500～9999米/秒使用频率1-2MHz电源AA碱性电池（1.5V）x 1约12小时（EL点亮时约8小时）工作温度-10 至 50°C（非冷凝）机身尺寸66(W)×180(H)×28(D)mm重
SANKO山高SF罐超声波测厚仪SF-1150
规格
测量方法
脉冲反射法（单探头法）
测量范围
1.0～50.0mm
模式自动切换（标准/厚板）
模式自动切换（标准/厚板）
显示方式
LCD 数字（带 EL 照明）
测量精度
±0.1mm
声速调节范围
500～9999米/秒
使用频率
1-2MHz
电源
AA碱性电池（1.5V）x 1
约12小时（EL点亮时约8小时）
约12小时（EL点亮时约8小时）
工作温度
-10 至 50°C（非冷凝）
机身尺寸
66(W)×180(H)×28(D)mm
重量
360克
探测
2C20N-DL型