SANKO山高Microtest永磁薄膜测厚仪
SANKO山高Microtest永磁薄膜测厚仪规格测量范围・G-6……0～100μm・F-5、F-6……0～1000μm・S5-6……0.5～5mm・S10-6……2.5～10mm工作温度-20 至 100°C（无冷凝）机身尺寸218(W)×55(H)×25(D)mm重量250克配件收纳盒评论也可提供用于镀镍的“NiFe50-6”。
SANKO山高Microtest永磁薄膜测厚仪
规格
测量范围
・G-6……0～100μm
・F-5、F-6……0～1000μm
・S5-6……0.5～5mm
・S10-6……2.5～10mm
・F-5、F-6……0～1000μm
・S5-6……0.5～5mm
・S10-6……2.5～10mm
工作温度
-20 至 100°C（无冷凝）
机身尺寸
218(W)×55(H)×25(D)mm
重量
250克
配件
收纳盒
评论
也可提供用于镀镍的“NiFe50-6”。