SANKO山高Quint Sonic 7超声波薄膜测厚仪
SANKO山高Quint Sonic 7超声波薄膜测厚仪规格测量方法超声回波反射法测量范围10～7500μm（声速2375m/s时）测量精度（垂直于光滑表面测量）±(1μm+读数的1%)测量记忆约250,000点（总计）液晶显示器160 x 160 像素，带背光最小测量面积11 毫米最低分辨率0.1微米附加功能记忆功能、统计运算功能数据输出IrDA 1.0（选项：USB、RS-232）电源AA电池
SANKO山高Quint Sonic 7超声波薄膜测厚仪
规格
测量方法
超声回波反射法
测量范围
10～7500μm（声速2375m/s时）
测量精度（垂直于光滑表面测量）
±(1μm+读数的1%)
测量记忆
约250,000点（总计）
液晶显示器
160 x 160 像素，带背光
最小测量面积
11 毫米
最低分辨率
0.1微米
附加功能
记忆功能、统计运算功能
数据输出
IrDA 1.0（选项：USB、RS-232）
电源
AA电池×4
工作温度
5 至 50°C（无冷凝）
机身尺寸
主体：89(W)×153(H)×32(D)mm
传感器：φ25×60mm
传感器：φ25×60mm
重量
主体：310g，传感器：80g