SANKO山高SL-200E电磁模拟式薄膜测厚仪
SANKO山高SL-200E电磁模拟式薄膜测厚仪规格测量范围I：0 至 50 μm II：0 至 500 μm测量精度±1 μm 或均匀表面指示值的 ±2%电源DC：AA 电池 (1.5V) x 8AC：100V，50/60Hz（使用交流适配器）工作温度0 至 40°C（无冷凝）机身尺寸190(W)×90(H)×120(D)mm重量1.8公斤配件标准厚度板、AC适配器、肩包探测2极型、磁极直径φ2
SANKO山高SL-200E电磁模拟式薄膜测厚仪
规格
测量范围
I：0 至 50 μm II：0 至 500 μm
测量精度
±1 μm 或均匀表面指示值的 ±2%
电源
DC：AA 电池 (1.5V) x 8
AC：100V，50/60Hz（使用交流适配器）
AC：100V，50/60Hz（使用交流适配器）
工作温度
0 至 40°C（无冷凝）
机身尺寸
190(W)×90(H)×120(D)mm
重量
1.8公斤
配件
标准厚度板、AC适配器、肩包
探测
2极型、磁极直径φ2.5、极距5mm
尺寸：10（W）×17（H）×21（D）mm
尺寸：10（W）×17（H）×21（D）mm