SANKO山高SL-120C电磁模拟式薄膜测厚仪
SANKO山高SL-120C电磁模拟式薄膜测厚仪规格测量范围I：2 至 15 毫米 II：0.2 至 3 毫米 III：0 至 0.3 毫米测量精度均匀表面的 ±2 μm 或指示值的 ±5%电源AA 电池 (1.5V) x 6工作温度0 至 40°C（无冷凝）机身尺寸190(W)×130(H)×80(D)mm重量2公斤配件标准厚度，单肩包探测2极型，磁极直径：φ6，接触面气孔率：R15，极间距16
SANKO山高SL-120C电磁模拟式薄膜测厚仪
规格
测量范围
I：2 至 15 毫米 II：0.2 至 3 毫米 III：0 至 0.3 毫米
测量精度
均匀表面的 ±2 μm 或指示值的 ±5%
电源
AA 电池 (1.5V) x 6
工作温度
0 至 40°C（无冷凝）
机身尺寸
190(W)×130(H)×80(D)mm
重量
2公斤
配件
标准厚度，单肩包
探测
2极型，磁极直径：φ6，接触面气孔率：R15，极间距16mm