进口！！NITTOSEIKO日东精工低电阻率自动测量系统紧凑型测绘系统MCP-S330型

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不受样品形状影响，精确测量表面电阻率[Ω/▢]和体积电阻率[Ω･cm]

• 导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分变化一目了然

• 可对最大 300 平方毫米的样品进行测绘，并可连续测量多个样品

• 连接到 Loresta GX 并测量 10-4 至 10+7 Ω 范围。

• 全自动测量、计算、数据处理和 3D 图形输出

导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分变化一目了然

• 随着显示设备（液晶、有机电致发光）对响应速度和清晰度的要求越来越高，电极基板的均匀性变得更加重要。

• 表面电阻率取决于材料。如果材料均匀，则膜越厚，表面电阻率越小。

• 在薄膜领域，通过绘制表面电阻率来评估薄膜厚度变化。