DENSOKU电测

进口!!DENSOKU电测 便携式涂层厚度计 QNIx 8500

进口!!DENSOKU电测 便携式涂层厚度计 QNIx 8500进口!!DENSOKU电测 便携式涂层厚度计 QNIx 8500 QNIx 8500QNIX4500/4200QNIx 7500QNIX Carcheck系统QNIX Handy 可测量的薄膜[F] 铁质材料上的非磁性涂层。[N] 非铁质材料上的非导电涂层。[FN] 铁质和非铁质材料上的非磁性和非导电涂层。[FN]在铁质和非铁质材料

进口!!DENSOKU电测 便携式涂层厚度计 QNIx 8500

进口!!DENSOKU电测 便携式涂层厚度计 QNIx 8500

 

 QNIx 8500QNIX
4500/4200
QNIx 7500QNIX Carcheck
系统
QNIX Handy 
可测量的薄膜[F] 铁质材料上的非磁性涂层。
[N] 非铁质材料上的非导电涂层。
[FN] 铁质和非铁质材料上的非磁性和非导电涂层。
[FN]
在铁质和非铁质材料上制备非磁性、
非导电
涂层。
[FN
]铁和铝材料上的
非磁性和非导电
薄膜厚度
材料识别
自动识别和交换铁质和非铁质材料

自动识别和交换铁质和非铁质材料
用户指定的转换
自动识别和交换铁质和非铁质材料
黑色金属和有色金属的自动
识别模式转换
测量原理[F] 磁通量(霍尔效应)
[N] 涡流
测量范围0~2,000μm
(可选:5,000μm)
0 至 3,000 微米0~2,000μm
(可选:5,000μm)
0 至 5,000 微米0 至 500 微米
最高
分辨率
0.1μm,1μm
【M】0.01μm
1微米0.1微米0.1μm,1μm5微米
配置格式0 点校正
用户校准:1
[M] 100 件
0 分修正0 分修正无校准功能无校准功能
准确性±(1μm+2%)
±3.5%
(2mm 或以上)
[T]±
(0.3μm+2%)
±(2μm+3%)±(1μm+3%)±(1μm+2%)
±3.5%
(2mm 或以上)
±(10μm+5%)
测量速度(约 40 次/分钟)
[T] 920 毫秒
(约 65 次/分钟)
[R] 1,600 毫秒
600毫秒
 (约70次/分钟)
1300毫秒
(约46次/分钟)
1500毫秒
 (约40次/分钟)
600毫秒
(约100次/分钟)

 


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