HIOKI日置

日本HIOKI日置阻抗分析仪IM7585

日本HIOKI日置阻抗分析仪IM7585基本参数(精度保证时间1年,调整后精度保证时间1年)测量模式LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量测量参数Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q精度保证范围100 mΩ~5 kΩ显示范围Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m

日本HIOKI日置阻抗分析仪IM7585

基本参数(精度保证时间1年,调整后精度保证时间1年)

测量模式LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量
测量参数Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保证范围100 mΩ~5 kΩ
显示范围Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°
测量频率1 MHz~1.3 GHz (设置分辨率100kHz)
测量信号电平功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm
电压 (V)模式: 4 mV~502 mVrms
电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms
输出阻抗50 Ω (10 MHz时)
显示彩色TFT8.4英寸、触屏
测量时间最快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值)
功能接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
接口EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
RS-232C (选件), GP-IB (选件)
电源AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
体积和重量主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg
测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g
附件电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1


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