ULVAC爱发科UNECS-1500M光谱椭偏仪,可高速、高精度测量薄膜厚度和折射率
ULVAC爱发科 UNECSーPortable手动型 高速光谱椭偏仪ULVAC爱发科UNECS-1500M光谱椭偏仪,可高速、高精度测量薄膜厚度和折射率轻便紧凑的便携型UNECS系列是一款光谱椭偏仪,可高速、高精度测量薄膜的厚度和折射率。采用独特的测量方法,实现高速测量和紧凑化。我们提供广泛的产品阵容,以适应不同的应用,包括独特的便携式类型、自动平台类型和与真空环境兼容的内置类型。UNECS-Po
ULVAC爱发科 UNECSーPortable手动型 高速光谱椭偏仪ULVAC爱发科UNECS-1500M光谱椭偏仪,可高速、高精度测量薄膜厚度和折射率轻便紧凑的便携型UNECS系列是一款光谱椭偏仪,可高速、高精度测量薄膜的厚度和折射率。采用独特的测量方法,实现高速测量和紧凑化。我们提供广泛的产品阵容,以适应不同的应用,包括独特的便携式类型、自动平台类型和与真空环境兼容的内置类型。UNECS-Po
ULVAC爱发科 UNECSーPortable手动型 高速光谱椭偏仪
ULVAC爱发科UNECS-1500M光谱椭偏仪,可高速、高精度测量薄膜厚度和折射率
轻便紧凑的便携型
UNECS系列是一款光谱椭偏仪,可高速、高精度测量薄膜的厚度和折射率。
采用独特的测量方法,实现高速测量和紧凑化。
我们提供广泛的产品阵容,以适应不同的应用,包括独特的便携式类型、自动平台类型和与真空环境兼容的内置类型。
UNECS-Portable是一款便携式型,重量轻、结构紧凑,测量单元重量仅为2.2公斤,方便携带。
包含一个用于小样品的简单固定载物台,并且可以从载物台上拆下以测量大样品。
特征
高速测量:
通过采用独特的快照方式,实现了最高速度20ms的高速测量。
兼容可见光谱:
波长范围可以从标准型(530nm至750nm)和可见光谱型(380nm至760nm)中选择。
紧凑的传感器单元:
光发射/接收传感器仅由光学元件组成,没有旋转机构,并且非常轻便和紧凑,并且不需要定期维护。
丰富的产品阵容:
我们拥有可适应各种应用的产品阵容,包括独特的便携式类型、手动/自动平台类型、大型基板类型以及与大气/真空环境兼容的内置类型。
用途
透明或半透明薄膜(氧化膜、氮化膜、抗蚀剂、ITO等)的膜厚、折射率、消光系数的测量
波长范围 | 530-750nm、380-760nm(任选其一) | |
光斑直径 | Φ1mm、Φ0.3mm(任选其一) | |
入射角度 | 70°固定 | |
膜厚再现性 | 1σ = 0.1纳米 | |
膜厚范围 | 1纳米~2微米 | |
测量时间 | 光接收:20ms至3000ms计算:300ms | |
阶段 | 固定式(Φ50mm以下,可拆卸) | |
控制电脑 | 笔记本型(带操作/分析软件) | |
机器构成 | 测量本体(带固定载物台)、控制箱、光源装置 操作电脑(笔记本型)、使用说明书(CD) |