SANKO山高SWT-NEO-F电磁式薄膜测厚仪
SANKO山高SWT-NEO-F电磁式薄膜测厚仪规格测量范围0-2.50mm显示方式LCD数字，显示保持显示分辨率1μm：0～999μm切换0.1μm：0～400μm0.5μm：400～500μm0.01mm：1.00～2.50mm测量精度0 至 100 μm 在均匀表面上：±1 μm 或指示值的 ±2%101 μm 至 2.50 mm：±2% 以内校准曲线内存×1电源AA 碱性电池 (1.5V)
SANKO山高SWT-NEO-F电磁式薄膜测厚仪
规格
测量范围
0-2.50mm
显示方式
LCD数字，显示保持
显示分辨率
1μm：0～999μm
切换
0.1μm：0～400μm
0.5μm：400～500μm
0.01mm：1.00～2.50mm
切换
0.1μm：0～400μm
0.5μm：400～500μm
0.01mm：1.00～2.50mm
测量精度
0 至 100 μm 在均匀表面上：±1 μm 或指示值的 ±2%
101 μm 至 2.50 mm：±2% 以内
101 μm 至 2.50 mm：±2% 以内
校准曲线内存
×1
电源
AA 碱性电池 (1.5V) × 2 连续使用时间 (25 小时*) 带自动关机功能的
AC 适配器（可选） *最大值（可能因使用条件而异。）
AC 适配器（可选） *最大值（可能因使用条件而异。）
工作温度
0 至 40°C（无冷凝）
机身尺寸
72(W)×30(H)×156(D)mm
重量
约270g（含电池）
配件
标准厚度板、测试用调零板、干电池、收纳盒、手带绳、保修和用户登记表、使用说明书
探测
1点定压接点式，带V形切口，φ15×47mm
评论
还有一种功能强大的 SWT-NEO II 类型，具有记忆和统计功能。