日本SANKO山高双联型膜厚仪探头SFN-325
日本SANKO山高双联型膜厚仪探头SFN-325类型名称SFN-325连接器类型SWT-NEO系列（NEO、NEO II、NEO III型号）测量方法电磁式和涡流式两种（基材自动检测）测量范围铁基：0-3.00mm 有色金属基：0-2.50mm物质歧视自动检测和手动切换显示分辨率1μm：0～999μm切换0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm：（铁基1.00～3.
日本SANKO山高双联型膜厚仪探头SFN-325
类型名称
SFN-325
连接器类型
SWT-NEO系列（NEO、NEO II、NEO III型号）
测量方法
电磁式和涡流式两种（基材自动检测）
测量范围
铁基：0-3.00mm 有色金属基：0-2.50mm
物质歧视
自动检测和手动切换
显示分辨率
1μm：0～999μm
切换
0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm
：（铁基1.00～3.00mm）（非铁基1.00～2.50mm）
切换
0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm
：（铁基1.00～3.00mm）（非铁基1.00～2.50mm）
测量精度
（垂直于光滑表面测量）
（垂直于光滑表面测量）
0～100㎛：±1㎛
或显示值的±2%以内
（铁） 101㎛～3.00mm：±2%以内
（有色金属） 101㎛～2.50mm：±2%以内
或显示值的±2%以内
（铁） 101㎛～3.00mm：±2%以内
（有色金属） 101㎛～2.50mm：±2%以内
探测
1点定压接点型，
φ15×50.9mm带V切，72g
φ15×50.9mm带V切，72g
选项
V型探头适配器
配件
测试用标准板、零板（黑色金属和有色金属）