日本SANKO山高双联型膜厚仪SWT-NEO-FN
日本SANKO山高双联型膜厚仪SWT-NEO-FN规格测量范围铁基:0-3.00mm非铁基:0-2.50mm显示方式LCD数字,显示保持显示分辨率1μm:0~999μm切换0.1μm:0~400μm0.5μm:400~500μm 0.01mm:铁基(1.00~3.00mm)有色金属基(1.00~2.50mm)测量精度均匀表面上的 0 至 100 μm:±1 μm(铁和非铁)或指示值的 ±2% 以内
日本SANKO山高双联型膜厚仪SWT-NEO-FN规格测量范围铁基:0-3.00mm非铁基:0-2.50mm显示方式LCD数字,显示保持显示分辨率1μm:0~999μm切换0.1μm:0~400μm0.5μm:400~500μm 0.01mm:铁基(1.00~3.00mm)有色金属基(1.00~2.50mm)测量精度均匀表面上的 0 至 100 μm:±1 μm(铁和非铁)或指示值的 ±2% 以内
日本SANKO山高双联型膜厚仪SWT-NEO-FN