日本NICHIRI日理 材料折射仪 RI8800示差折光检测器
日本NICHIRI日理 材料折射仪 RI8800示差折光检测器 RI8800 示差折光检测器RI（差示折射）检测器是一种检测材料折射率差异的测量方法。大多数化合物具有不同的折射率，因此可以检测任何成分。RI 检测器的流通池分为样品侧和参比侧。样品侧溶液的成分发生变化，光的折射程度发生变化。由于温度或溶剂成分的变化也会引起折射率的变化，因此需要在恒定温度和恒定成分下进行分析。光学系统的温度控制缩短了
日本NICHIRI日理 材料折射仪 RI8800示差折光检测器
RI8800 示差折光检测器
RI（差示折射）检测器是一种检测材料折射率差异的测量方法。大多数化合物具有不同的折射率，因此可以检测任何成分。
RI 检测器的流通池分为样品侧和参比侧。样品侧溶液的成分发生变化，光的折射程度发生变化。
由于温度或溶剂成分的变化也会引起折射率的变化，因此需要在恒定温度和恒定成分下进行分析。
光学系统的温度控制缩短了开机后的稳定时间并减少了漂移。
产品规格
| 测量方法 | 布莱斯，偏转型 |
|---|---|
| 流动路径 | 双流 |
| 折射率范围 | 1.00～1.8 |
| 范围 | 0.25、0.50、1.00、2.00、4.00、8.00、16.00、32.00、64.00、128.00、256.00、512.00 、S(×10 -6 RIU/FS) *1 |
| 细胞 | 内部容量：2.5μL（可选；8或10μL） 耐压：5kgf/cm，0.5MPa |
| 噪音2 | 2.5×10 -9 RIU（THF，时间常数：3.00秒）*2 |
| 漂移 | 8×10 -7 RIU/h （THF，流速1.0 mL/min，环境温度变化±-1℃） |
| 回复 | 0.05、1.00、3.00 秒 |
| 温度控制 | 30、35、40、45、关闭 |
| 自动调零 | 整个测量范围 |
| 输入信号 | 标记：TTL电平，继电器接点信号*3 自动调零：TTL电平，继电器接点信号 |
| 输出信号 | 记录器：10 mV/FS 积分器：1V/256×10 -6 RIU、1V/64×10 -6 RIU 标记器：记录器输出+1mV、继电器触点信号 泄漏 ：继电器触点信号 |
| 外形尺寸 | 240(W)×150(H)×440(D) mm（不含突出部分） |
| 重量 | 12公斤 |
| 电源 | AC100V+/-10%，50/60Hz，100VA |
| 管道（配件） | 入口侧：316SST，0.2 mm（内径）× 800mm（长） 出口侧：316SST，0.6 mm（内径）× 800mm（长） |