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KEM京都电子 便携式反射率测定仪 D&S AERD

KEM京都电子 便携式反射率测定仪 D&S AERD便携式反射率测定仪 D&S AERD可快速测量各种固体表面的发射率。半球发射率(hemispherical emittance): 热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全幅射体(黑体)的辐射出射度之比值。ASTM C1371 - 15 Standard Test Method for Determination of

KEM京都电子 便携式反射率测定仪 D&S AERD

便携式反射率测定仪 D&S AERD

可快速测量各种固体表面的发射率。
半球发射率(hemispherical emittance): 热辐射体在半球方向上的辐射出射度与

处于相同温度的全幅射体(黑体)的辐射出射度之比值。
ASTM C1371 - 15 Standard Test Method for Determination of 

Emittance of Materials Near Room Temperature Using Portable Emissometers.

(便携式反射率测定仪常温下材料半球发射率的测定)。
HG/T 4341-2012 金属表面用热反射隔热涂料(半球发射率)。

便携式反射率测定仪 D&S AERD 主要特点:

1. 数字显示发射率装置。
2. 测量时间短(约15秒)。
3. 低价格,且操作容易。

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