进口 EMIC爱美克 用于测量低渗透率 型号:LP-141A
概述检查低渗透性材料加工后的结构变化等。 用于低渗透性样品的相对渗透率测量。通过将探头放在低渗透性材料上,可以在短时间内测量局部相对渗透率。用于低导磁率材料加工后的检测。通过将探头放在低渗透性材料上,可以在短时间内测量局部相对渗透率。用于低导磁率材料加工后的检测。特征(1) 可在短时间内准确测量导磁率低的材料。 (2)材料质量控制容易进行。 (3) 可进行异物混入试验。规格测量范围1.001 至
概述检查低渗透性材料加工后的结构变化等。 用于低渗透性样品的相对渗透率测量。通过将探头放在低渗透性材料上,可以在短时间内测量局部相对渗透率。用于低导磁率材料加工后的检测。通过将探头放在低渗透性材料上,可以在短时间内测量局部相对渗透率。用于低导磁率材料加工后的检测。特征(1) 可在短时间内准确测量导磁率低的材料。 (2)材料质量控制容易进行。 (3) 可进行异物混入试验。规格测量范围1.001 至
检查低渗透性材料加工后的结构变化等。
用于低渗透性样品的相对渗透率测量。
通过将探头放在低渗透性材料上,可以在短时间内测量局部相对渗透率。
用于低导磁率材料加工后的检测。
通过将探头放在低渗透性材料上,可以在短时间内测量局部相对渗透率。
用于低导磁率材料加工后的检测。
(1) 可在短时间内准确测量导磁率低的材料。
(2)材料质量控制容易进行。
(3) 可进行异物混入试验。
测量范围 | 1.001 至 4 | ||
测量范围 | 1.03、1.1、1.3、2.0、4.0(5 个范围) | ||
准确性 | 范围的±3% | ||
校准方法 | 附标准试件 | ||
输出 | DC 1V/FS(设置范围 1 时) | ||
电源 | AC100V±10% 50/60Hz 约50VA | ||
尺寸(毫米)/重量 | 260W x 162H x 310D(含突出部分)约4kg |